Tetrachlorek ksenonu
Ogólne informacje
Wzór sumaryczny

XeCl4

Masa molowa

273,10 g/mol

Identyfikacja
Numer CAS

14989-42-5

Podobne związki
Podobne związki

XeCl
2
, XeF
4

Tetrachlorek ksenonu (nazwa Stocka: chlorek ksenonu(IV)), XeCl
4
– nietrwały nieorganiczny związek chemiczny ksenonu na IV stopniu utlenienia z chlorem.

Obliczenia teoretyczne

W celu ustalenia, czy związek ten jest stabilny przeprowadzone zostały teoretyczne obliczenia termodynamiczne. Ciepło tworzenia z pierwiastków w reakcji Xe (g) + 2 Cl2 (g) → XeCl4 (g) oszacowano na 50,9–61,1 kcal/mol, a energię dysocjacji w reakcji ¼ XeCl4 (g) → ¼ Xe (g) + Cl na 13,3–15,8 kcal/mol. Oznaczało to, że tetrachlorek ksenonu może istnieć, jednak nie będzie związkiem stabilnym. Obliczony potencjał jonizacji XeCl4 wynosi 11,5 eV. Niska stabilność XeCl4 została później potwierdzona za pomocą symulacji wykorzystujących poszerzoną teorię perturbacyjną Rayleigh-Schroedingera I i II rzędu.

Próby syntezy

Próba jego otrzymania poprzez podmianę atomów fluoru atomami chloru w reakcji XeF4 z BCl3 zakończyła się niepowodzeniem – pośród produktów zamiast XeCl4 wykryto Xe, Cl2 i BF3. Niezwykle krótko żyjące cząsteczki związku udało się natomiast uzyskać za pomocą reakcji jądrowej. Powstawanie XeCl4 zaobserwowano bowiem podczas badania rozpadu β anionu 129ICl4-. Reakcję, która nastąpiła, można zapisać następująco:

129ICl4-129XeCl4 + e + νe

Reakcja przeprowadzona została w temperaturze 4,2 K z wykorzystaniem K129ICl4·H2O, zawierającego izotop 129 jodu o okresie półtrwania 1,6×106 lat; powstający z niego 129Xe jest izotopem stabilnym. Efekt reakcji wykryto poprzez detekcję promieniowania gamma o energii 40 keV, które było wynikiem przejścia jądra atomu 129Xe z pierwszego stanu wzbudzonego do stanu podstawowego. Na tej podstawie oszacowano minimalny czas, przez który cząsteczka XeCl4 zachowuje stabilność, na ∼10−9 s.

Właściwości

W trakcie badań 129XeCl4 metodą spektroskopii Mössbauera zmierzono, że średni okres trwania atomu 129Xe w stanie wzbudzonym wynosi 1,46×10−9 s. Udało się również ustalić, że na każdym z atomów chloru w cząsteczce tetrachlorku ksenonu istnieje cząstkowy ładunek −0,5 e.

Potencjalne zastosowanie

Istnieje możliwość zastosowania XeCl4 do naprawy masek fotolitograficznych. W procesie tym nadmiarowa warstwa chromu osadzona na powierzchni kwarcu jest usuwana za pomocą skoncentrowanej wiązki jonów, które powstają w wyniku oddziaływania wiązki elektronów z tak dobranym gazem, aby efektywnie trawić chrom, ale jednocześnie w możliwie małym stopniu naruszać powierzchnię kwarcu. Obliczenia wskazują, że XeCl4 ma odpowiednie właściwości do tego celu.

Zobacz też

Uwagi

    Przypisy

    1. James H. Waters, Harry B. Gray. „Journal of the American Chemical Society”. 85 (6), s. 825–826, 1963. DOI: 10.1021/ja00889a045.
    2. Charles E. Melton, Hubert W. Joy. Calculated Ionization Potential of Chloro- and Fluoromethanes, Tetrafluoromethane (CF4), Xenon Tetrafluoride (XeF4), and Xenon Tetrachloride (XeCl4). „The Journal of Chemical Physics”. 42 (8), s. 2982, 1965. DOI: 10.1063/1.1703282.
    3. E. Lombardi, L. Pirola, G. Tarantini, L. Jansen i inni. Validity of the three-center, four-electron model for stability of rare gas halides on the basis of exchange perturbation theory. „International Journal of Quantum Chemistry”. 8 (3), s. 335–345, 1974. DOI: 10.1002/qua.560080303.
    4. N. Bartlett. The chemistry of the noble gases. „Endeavour”. 23 (88), s. 3–7, 1964. ISSN 0160-9327.
    5. Haner, Jamie, Schrobilgen, Gary J. The Chemistry of Xenon(IV). „Chemical Reviews”. 115 (2), s. 1255–1295, 2015. DOI: 10.1021/cr500427p.
    6. 1 2 G.J. Perlow, M.R. Perlow. Mössbauer Effect Evidence for the Existence and Structure of XeCl4. „The Journal of Chemical Physics”. 41 (4), s. 1157, 1964. DOI: 10.1063/1.1726022.
    7. G. J. Perlow, M. R. Perlow: Production of xenon compounds by the β-decay of iodine in iodine compounds. W: Chem. Effects Nucl. Transformations, Proc. Symp., Vienna 7-11 December 1964. T. 2. Wiedeń: International Atomic Energy Aagency, 1965, s. 443–458. [dostęp 2015-08-28].
    8. G.J. Perlow, M.R. Perlow. Studies of Xenon Chlorides and Other Xenon Compounds by the Mössbauer Effect in 129Xe*. „The Journal of Chemical Physics”. 48 (3), s. 955, 1968. DOI: 10.1063/1.1668848.
    9. Bret T., Hoffmann P., Rossi C., Multone X.; FEI Company: Method of selective etching by using a focused ion beam, an electron beam or a laser beam; patent US7670956. 2010. [dostęp 2015-08-28].
    This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.